A fixture assembly is presented. The fixture assembly includes a device
assembly for mating with a device under test and a tester interface
assembly for mating with the device assembly on one side and a tester on a
second side. In the method and apparatus of the present invention, the
device assembly includes a probe field specific to a device under test and
may be changed to accommodate a different device, without changing the
tester interface assembly. The tester interface assembly includes a frame
used for alignment and structural support. The frame interfaces with a
probe plate on one side and a load plate on the other side. The probe
plate holds a plurality of probes in place while the load plate provides a
plurality of holes for the probes to extend downward through the load
plate. A printed circuit board (PCB) is positioned below the load plate
and makes contact with the ends of the probes. The entire tester interface
assembly is positioned on top of an electronic tester and maps points of
contact in the tester with the probe field of the device assembly.
Агрегат приспособления. Агрегат приспособления вклюает агрегат приспособления для сопрягать с приспособлением под испытание и агрегат поверхности стыка тестера для сопрягать с агрегатом приспособления на одной стороне и тестером на второй стороне. В методе и приборе присытствыющего вымысла, агрегат приспособления вклюает специфический поля зонда к приспособлению под испытанием и может быть изменен для того чтобы приспособить по-разному приспособление, без изменять агрегат поверхности стыка тестера. Агрегат поверхности стыка тестера вклюает рамку используемую для выравнивания и структурно поддержки. Рамка взаимодействует с плитой зонда на одной стороне и плитой нагрузки на другой стороне. Плита зонда держит множественность зондов in place пока плита нагрузки обеспечивает множественность отверстий для зондов для того чтобы проходить вниз через плиту нагрузки. Доска печатной схеми (pcb) расположена под плитой и касать нагрузки с концами зондов. Весь агрегат поверхности стыка тестера расположен on top of электронный тестер и составляет карту пункты контакта в тестере с полем зонда агрегата приспособления.
