The present invention relates to an assembly structure and a method for
assembling active and passive photonic and/or optoelectronic devices on a
silicon board. The invention relates in particular to an assembly
structure and a method for aligning the photonic devices during the
assembling procedure. According to the present invention, the assembly
structure comprises one or more alignment features comprising tapered side
surface parts in directions at least substantially parallel to an optical
axis. By providing a tapering in a direction in a direction at least
substantially parallel to the first optical axis, any inaccuracies
primarily affects the non-critical positioning in the direction along the
optical axis, whereas the critical positioning transverse to the optical
axis merely depends on the symmetry of alignment features. The errors from
the inherent inaccuracy of the position and shape of alignment features
are thereby minimized. Also, the devices to be aligned are preferably
arranged on top of the alignment features which forms part of the basic
structure on the silicon board. All alignment features can thereby be
defined in a single mask step together with the structures with which the
alignment is to be carried out, resulting in an improved accuracy of the
assembly structure. The resulting components will be used especially for
broadband telecommunication components.
La presente invenzione riguarda una struttura del complessivo e un metodo per il montaggio dei dispositivi photonic e/o optoelettronici attivi e passivi su un bordo del silicone. L'invenzione si riferisce in particolare ad una struttura del complessivo e ad un metodo per l'allineamento dei dispositivi photonic durante la procedura di montaggio. Secondo la presente invenzione, la struttura del complessivo contiene una o più caratteristiche di allineamento che contengono le parti di superficie laterali affusolate nei sensi almeno sostanzialmente paralleli ad un asse ottico. Fornendo affusolarsi in un senso in un senso il più minimo a sostanzialmente parallelo al primo asse ottico, tutte le inesattezze soprattutto interessa posizionare non critico nel senso lungo l'asse ottico, mentre posizionare critico trasversale all'asse ottico soltanto dipende dalla simmetria delle caratteristiche di allineamento. Gli errori dall'inesattezza inerente della posizione e della figura delle caratteristiche di allineamento quindi sono minimizzati. Inoltre, i dispositivi da allineare sono organizzati preferibilmente in cima alle caratteristiche di allineamento che le forme parte della struttura di base sul bordo del silicone. Tutte le caratteristiche di allineamento possono quindi essere definite ad un singolo punto della mascherina insieme alle strutture con cui l'allineamento deve essere effettuato, con conseguente esattezza migliorata della struttura del complessivo. I componenti risultanti saranno usati particolarmente per i componenti a banda larga di telecomunicazione.
