Methods and apparatus for determining the optimal adjustment of imaging
systems used to prepare lithographic printing surfaces for a printing
press are described. A series of test patterns are imaged while varying a
particular imaging parameter. This is followed, if necessary, by
processing the plate in processing line. The plate is then returned to the
digital imaging system where the reflectivity of the imaged test patterns
is measured using a radiation source and detector, to determine the
optimal setting for the parameter.
Os métodos e os instrumentos para determinar o ajuste optimal dos sistemas da imagem latente usados preparar superfícies imprimindo lithographic para uma imprensa imprimindo são descritos. Uma série de testes padrões de teste é imaged ao variar um parâmetro particular da imagem latente. Isto é seguido, se necessário, processando a placa na linha processando. A placa é retornada então ao sistema digital da imagem latente onde o reflectivity dos testes padrões de teste imaged é medido usando uma fonte e um detetor da radiação, para determinar o ajuste optimal para o parâmetro.
