Enhanced sampling rate in time domain imaging using MOEMS scanning optical delay line

   
   

Electromagnetic waves in wide frequency ranges up to photonics have been used for applications to time-domain imaging (TDI). Realistic time domain imaging requires a rapid optical delay line on the order of 100 ps with sampling rate at least 100 Hz. Present available optical time delay systems suffer either from low sampling rate or low time delay length, deviating from ideal requirements. The purpose of this invention is to introduce a miniature and rapid scanning optical delay line based on micro-opto-electro-mechanical system (MOEMS) technology to improve the data acquisition in time domain imaging, capable of sampling rate beyond 100 Hz and time delays beyond the 100 ps.

Τα ηλεκτρομαγνητικά κύματα στα ευρέα φάσματα συχνότητας μέχρι το photonics έχουν χρησιμοποιηθεί για τις εφαρμογές στην απεικόνιση χρόνος-περιοχών (TDI). Η ρεαλιστική απεικόνιση χρονικών περιοχών απαιτεί μια γρήγορη οπτική γραμμή καθυστέρησης σε παραγγελία 100 ps με το ποσοστό τουλάχιστον 100 Hz δειγματοληψίας. Τα παρόντα διαθέσιμα οπτικά συστήματα χρονικής καθυστέρησης πάσχουν είτε από το χαμηλό ποσοστό δειγματοληψίας είτε το χαμηλό μήκος χρονικής καθυστέρησης, που παρεκκλίνει από τις ιδανικές απαιτήσεις. Ο σκοπός αυτής της εφεύρεσης είναι να εισαχθεί μια μικροσκοπική και γρήγορη γραμμή καθυστέρησης ανίχνευσης οπτική βασισμένη στην μικροϋπολογιστής-οπτο-ηλεκτρο-μηχανική τεχνολογία συστημάτων (MOEMS) για να βελτιώσει την έγκαιρη απεικόνιση περιοχών αποκτήσεων στοιχείων, ικανή του ποσοστού δειγματοληψίας πέρα από 100 Hz και των χρονικών καθυστερήσεων πέρα από τα 100 ps.

 
Web www.patentalert.com

< Contact element and a contact arrangement

< Ion beam apparatus, ion beam processing method and sample holder member

> Coating compositions having improved scratch resistance, coated substrates and methods related thereto

> Methods of making electromechanical three-trace junction devices

~ 00153