In a fuse circuit including programmable fuses in a semiconductor
integrated circuit, the fuses store specific information related to the
semiconductor integrated circuit, such as redundancy information, wafer
lot number, die lot number, and die position on the wafer, etc. The fuse
circuit utilizes a plurality of fuses for storing identical bit
information. Consequently, in the case where a fuse has not been cut out
correctly, the fuse circuit can reduce programming defects, whereby defect
generation rates are remarkably decreased.
En un circuito del fusible incluyendo los fusibles programables en un circuito integrado del semiconductor, los fusibles almacenan la información específica relacionada con el circuito integrado del semiconductor, tal como información de la redundancia, número de porción de la oblea, número de porción del dado, y posición del dado respecto a la oblea, al etc. El circuito del fusible utiliza una pluralidad de fusibles para almacenar la información idéntica del pedacito. Por lo tanto, en el caso donde un fusible no se ha cortado correctamente, el circuito del fusible puede reducir el programar de defectos, por el que las tarifas de la generación del defecto estén disminuidas notable.
