A method of and an arrangement for characterizing non-linear behavior of RF
and microwave devices under test in a near matched environment. The method
comprises the steps of exciting the device by an RF signal under different
load conditions, measuring signal data at input and output ports of the
device, verifying whether the measurement data meet predetermined quality
criteria; calculating, from the measurement data, model parameters of a
predetermined model for characterizing the non-linear behavior of the
device, and verifying assumptions made in the characterization model by
collecting additional measurement data and comparing same with data
calculated from the model using the model parameters calculated. The load
conditions are obtained by connecting to the output port of the device a
matched load, an open, a short and a plurality of attenuators and delays.
Un metodo di e una disposizione per caratterizzare comportamento non lineare della rf e dei dispositivi di a microonde sotto la prova in un ambiente abbinato vicino. Il metodo contiene i punti eccitare il dispositivo da un segnale di rf in stati di carico vari, misurando i dati del segnale agli orificii di uscita e dell'input del dispositivo, verificanti se i dati di misura rispondono ai criteri qualitativi predeterminati; calcolando, dai dati di misura, modelli i parametri di un modello predeterminato per caratterizzare il comportamento non lineare del dispositivo e verificando i presupposti fatti nella descrizione modelli raccogliendo i dati supplementari di misura e paragonando stessi ai dati calcolati dal modello usando i parametri di modello calcolati. Gli stati di carico sono ottenuti collegando all'orificio di uscita del dispositivo un carico abbinato, un aperto, uno short e una pluralità di attenuatori e fa ritardare.
