A system for analyzing bitmap test data includes a fault shape analyzer
which continuously and automatically receives bitmap test data. In use,
the user creates at least one failure pattern analysis order to be
performed by the fault shape analyzer, the order specifying a particular
failure pattern to be identified. Based on the order, the fault shape
analyzer creates a bitmap display of a user-specified sector using
selected bitmap test data. The fault shape analyzer identifies the
user-specified failure pattern in the bitmap display by multiplying, at
various locations, the bitmap display in the frequency domain and the
failure pattern in the frequency domain. A comparison between the product
of the multiplication process and the failure pattern is performed to
locate failure patterns in the bitmap display. Failure patterns identified
from the comparison process are saved as defect files which, in turn, are
stored in a failure pattern classification database.
Ein System für das Analysieren der Bit-Übersichtstestdaten schließt einen Störung Formanalysator mit ein, dem ununterbrochen und automatisch Bit-Übersichtstestdaten empfängt. Im Gebrauch verursacht der Benutzer mindestens einen durch den Störung Formanalysator, der Auftrag durchgeführt zu werden Ausfallmuster-Analyse Auftrag, ein bestimmtes gekennzeichnet zu werden Ausfallmuster spezifizierend. Gegründet auf dem Auftrag, verursacht der Störung Formanalysator eine Bit-Übersichtsanzeige eines benutzerspezifischen Sektors mit vorgewählten Bit-Übersichtstestdaten. Der Störung Formanalysator kennzeichnet das benutzerspezifische Ausfallmuster in der Bit-Übersichtsanzeige, indem er, an den verschiedenen Positionen, in der Bit-Übersichtsmultipliziert, anzeige im Frequenzgebiet und im Ausfallmuster im Frequenzgebiet. Ein Vergleich zwischen dem Produkt des Vermehrungprozesses und dem Ausfallmuster wird durchgeführt, um Ausfallmuster in der Bit-Übersichtsanzeige zu lokalisieren. Die Ausfallmuster, die vom Vergleich Prozeß gekennzeichnet werden, werden während Defektakten gespeichert, die der Reihe nach in einer Ausfallmuster-Klassifikationdatenbank gespeichert werden.
