System and method to provide tight locking for DLL and PLL with large range, and dynamic tracking of PVT variations using interleaved delay lines

   
   

An interleaved delay line for use in phase locked and delay locked loops is comprised of a first portion providing a variable amount of delay substantially independently of process, temperature and voltage (PVT) variations while a second portion, in series with the first portion, provides a variable amount of delay that substantially tracks changes in process, temperature, and voltage variations. By combining, or interleaving, the two types of delay, single and dual locked loops constructed using the present invention achieve a desired jitter performance under PVT variations, dynamically track the delay variations of one coarse tap without a large number of delay taps, and provide for quick and tight locking. Methods of operating delay lines and locked loops are also disclosed.

Een doorschoten gesloten en vertraging gesloten vertragingslijn voor gebruik in fase wordt lijnen van een eerste gedeelte samengesteld dat een veranderlijke hoeveelheid vertraging verstrekt wezenlijk onafhankelijk van proces, temperatuur en voltage (PVT) variaties terwijl een tweede gedeelte, in reeks met het eerste gedeelte, een veranderlijke hoeveelheid vertraging verstrekt die wezenlijk veranderingen in proces, temperatuur, en voltagevariaties volgt. Door het combineren, of het doorschieten, de twee types van vertraging, enige en dubbele gesloten geconstrueerde lijnen gebruikend de onderhavige uitvinding bereik gewenste jitter prestaties onder PVT variaties, dynamisch spoor de vertragingsvariaties van één ruwe kraan zonder een groot aantal vertragingskranen, en voorzie snel en strak sluiten. De methodes om te werken vertragen lijnen en de gesloten lijnen worden ook onthuld.

 
Web www.patentalert.com

< Computer system and a method of assigning a storage device to a computer

< Managing operations of a computer system having a plurality of partitions

> IC card, IC chip, data assuring method and power supply monitor method

> Universal method and apparatus for controlling a functional test system

~ 00156