An apparatus and method for monitoring memory system performance and
controlling an operating parameter is provided. A plurality of digital
events indicative of memory system operations is detected, from which a
subset of digital events to count is periodically selected, the subset
being those digital events occurring during a sampling window time
interval. Responsive to each digital event of the subset, a transistor is
switched on to conduct current from a power supply to a capacitor. The
transistor is biased by the capacitor to operate in a constant current
region providing a substantially fixed amount of charge added to the
capacitor responsive to each digital event of the subset. The operating
parameter is controlled responsive to the charge accumulated in the
capacitor, representative of the count of digital events in the subset. In
one embodiment, the sampling window time interval is selected
pseudo-randomly within a periodic base time interval.
Een apparaat en een methode om de prestaties van het geheugensysteem te controleren en een werkende parameter worden te beheersen verstrekt. Een meerderheid van digitale gebeurtenissen indicatief van de verrichtingen van het geheugensysteem wordt ontdekt, waaruit een ondergroep van digitale te tellen gebeurtenissen periodiek wordt geselecteerd, de ondergroep die die digitale gebeurtenissen die tijdens een de tijdinterval van het bemonsteringsvenster voorkomen is. Ontvankelijk voor elke digitale gebeurtenis van de ondergroep, is een transistor ingeschakeld om stroom van een machtslevering aan een condensator te leiden. De transistor wordt beïnvloed door de condensator om in een constant huidig gebied te werken dat een wezenlijk vaste hoeveelheid last verstrekt die aan de condensator ontvankelijk voor elke digitale gebeurtenis van de ondergroep wordt toegevoegd. De werkende parameter wordt ontvankelijk voor de last gecontroleerd die in de condensator, vertegenwoordiger wordt geaccumuleerd van de telling van digitale gebeurtenissen in de ondergroep. In één belichaming, wordt het de tijdinterval van het bemonsteringsvenster geselecteerd pseudo-willekeurig binnen een periodiek interval van de basistijd.
