Polarization mode dispersion measuring device and polarization mode dispersion measuring method

   
   

An apparatus and method for measuring polarization mode dispersion (PMD) using a polarization mode dispersion measuring device, comprising an FSF laser generating frequency chirped light, an optical amplifier amplifying the frequency chirped light, an offset circuit, a .lambda./2 plate, a beam splitter, an analyzer retrieving polarization components measured from each light wave after propagating through the fast axis and the delay axis of the optical fiber under test, a lens, a photodetector detecting a light wave passed through the lens, and an RF spectrum analyzer observing a spectrum waveform of the light wave. The frequency chirped light, after propagating through the optical fiber under test and passing through the analyzer, is detected and the variation in beat frequency is measured to determine a PMD value.

Apparaten en een methode om de verspreiding die van de polarisatiewijze te meten (PMD) een de verspreidings meetinstrument met behulp van van de polarisatiewijze, dat uit een laser FSF bestaat die frequentie produceert tjilpten licht, tjilpte een optische versterker die de frequentie vergroot licht, een compensatiekring, een lambda./2 plaat, een straalsplitser, een analysator polarisatiecomponenten terugwinnen die van elke lichte golf na zich het verspreiden door de snelle as en de vertragingsas van de optische vezel in onderzoek worden gemeten, een lens, een fotodetector ontdekkend een lichte golf die door de lens wordt overgegaan, en een het spectrumanalysator die van rf waarnemend een spectrumgolfvorm van de lichte golf. De frequentie tjilpte licht, na zich het verspreiden door de optische vezel in onderzoek en het overgaan door de analysator, wordt ontdekt en de variatie sloeg binnen frequentie wordt gemeten om een waarde te bepalen PMD.

 
Web www.patentalert.com

< Non-flammable land and sea marker

< Optical single sideband transmitter

> Controller for a laser using predictive models of materials processing

> Dual stage defect region identification and defect detection method and apparatus

~ 00159