Method for determining measuring positions and method for planning measuring tracks for measuring an object or a part thereof and device for measuring an object or a part thereof

   
   

A method for determining measuring positions and a method for planning measuring tracks in order to measure an object or a part of an object. Also, a method and a device for measuring an object or a part of an object wherein a triangular surface of an object to be measured is calculated from a plurality of reference points and a measuring position is assigned to each triangle at defined intervals. Said measuring positions are arranged around a support point in a zigzag fashion to form a suitable measuring track. Said measuring track is traversed during the measurement. A device used to determine said measuring positions and to plan said measuring tracks enables the track to be traversed.

Een methode om het meten posities te bepalen en een methode om metende sporen van plan te zijn om een voorwerp of een deel van een voorwerp te meten. Ook, worden een methode en een apparaat om een voorwerp of een deel van een voorwerp te meten waarin een driehoekige oppervlakte van een te meten voorwerp wordt berekend vanaf een meerderheid van verwijzingspunten en een het meten positie toegewezen aan elke driehoek met bepaalde intervallen. Gezegd metend posities worden geschikt rond een steunpunt op een zigzagmanier om een geschikt metend spoor te vormen. Het bovengenoemd is meten van spoor overgestoken tijdens de meting. Een apparaat dat wordt gebruikt om te bepalen en gezegd metend posities te plannen gezegd metend sporen laat dat het spoor toe zijn overgestoken.

 
Web www.patentalert.com

< Image generating system and program

< Optimized packing of loose data in a graphics queue

> Magnified texture-mapped pixel performance in a single-pixel pipeline

> System and method for performing scale and bias operations by preclamping input image data

~ 00159