An apparatus and a method are disclosed for reducing the pin driver count
required for testing computer memory devices, specifically Rambus DRAM,
while a die is on a semiconductor wafer. By reducing the pin count, more
DRAMs can be tested at the same time, thereby reducing test cost and time.
One preferred embodiment utilizes a trailing edge of a precharge clock to
select a new active bank address, so that the address line required to
select a new active address does not have to be accessed at the same time
as the row lines.
Un aparato y un método se divulgan para reducir el perno cuenta requerida para los dispositivos de prueba de la memoria de computadora, específicamente COPITA del conductor de Rambus, mientras que un dado está en una oblea de semiconductor. Reduciendo el perno cuenta, más copitas se pueden probar en el mismo tiempo, de tal modo reduciendo coste de la prueba y tiempo. Uno prefirió la encarnación utiliza un borde de fuga/posterior de un reloj de la precarga para seleccionar una nueva dirección activa del banco, para no tener que alcanzar la línea de la dirección requerida para seleccionar una nueva dirección activa al mismo tiempo que la fila alinea.
