A semiconductor chip of the present invention includes a plurality of first
elements each of which diagnoses itself, and a second element which inputs
diagnosis results from the first elements and determines whether or not
there is a faulty first element in the first elements. A method of the
present invention which is performed in a semiconductor chip including a
plurality of first elements, includes diagnosing the first elements by
itself; and determining whether or not there is a faulty first element in
the first elements based on diagnosis results from the first elements.
Uma microplaqueta do semicondutor da invenção atual inclui um plurality dos primeiros elementos cada um de que se diagnostica, e de um segundo elemento que inputs resultados do diagnóstico dos primeiros elementos e determine se ou há um primeiro elemento defeituoso nos primeiros elementos. Um método da invenção atual que é executada em uma microplaqueta do semicondutor including um plurality de primeiros elementos, inclui diagnosticar os primeiros elementos por se; e determinar se ou há um primeiro elemento defeituoso nos primeiros elementos baseados no diagnóstico resulta dos primeiros elementos.
