A system and method automatically analyzes and manages loss factor data of
test processes in which a great number of IC devices are tested as a lot
with a number of testers. The lot contains a predetermined number of
identical IC devices, and the lot test process is performed sequentially
according to a predetermined number of test cycles. The system include a
means for verifying test results for each of the test cycles and for
determining whether or not a re-test is to be performed and an IC device
loading/unloading means for loading IC devices to be tested and contained
in the lot to a test head and for unloading the tested IC devices from the
test head by sorting the tested IC devices according to the test results.
The system also includes raw data generating means for generating raw data
on the basis of time data occurring when the test process is performed;
data calculating means for calculating testing time data, index time data
based on the raw data, and loss time data; data storage means for storing
the raw data and the calculated data; and data analyzing and outputting
means for analyzing the raw data and the calculated data according to the
lots, the plurality of testers and the IC device loading/unloading means
and for outputting the analyzed output through an user interface. The test
system includes testers, a server system and terminal computer, and the
server system is provided with data storage means for integrally
manipulating time data generated by the testers according to lots and test
cycles and for storing manipulated time data.
Un sistema y un método analiza y maneja automáticamente datos del factor de pérdida de los procesos de la prueba en los cuales una gran cantidad de dispositivos del IC se prueban como mucho con un número de probadores. La porción contiene un número predeterminado de los dispositivos idénticos del IC, y el proceso de la prueba de la porción se realiza secuencialmente según un número predeterminado de los ciclos de la prueba. El sistema incluye los medios para verificar los resultados de la prueba para cada uno de los ciclos de la prueba y para determinarse si o no una contra-prueba sea los medios ser realizada y del dispositivo un loading/unloading del IC para cargar los dispositivos del IC que se probarán y contenidos en la porción a una cabeza de la prueba y para descargar los dispositivos probados del IC de la cabeza de la prueba clasificando los dispositivos probados del IC según los resultados de la prueba. El sistema también incluye las informaciones en bruto que generan los medios para generar informaciones en bruto en base de los datos del tiempo que ocurren cuando se realiza el proceso de la prueba; datos que calculan los medios para calcular los datos de prueba del tiempo, datos del tiempo del índice basados en las informaciones en bruto, y los datos del tiempo de la pérdida; medios del almacenaje de datos para almacenar las informaciones en bruto y los datos calculados; y datos que analizan y que hacen salir los medios para analizar las informaciones en bruto y los datos calculados según las porciones, la pluralidad de probadores y los medios del dispositivo loading/unloading del IC y para hacer salir la salida analizada a través de un interfaz utilizador. El sistema de la prueba incluye probadores, un sistema del servidor y la computadora del terminal, y el sistema del servidor se proporciona los medios del almacenaje de datos para integralmente manipular los datos del tiempo generados por los probadores según porciones y ciclos de la prueba y para almacenar datos manipulados del tiempo.
