An exemplary system and method for detecting at least one analyte in a
sample comprises inter alia a source of radiation (300), a near-field
aperture array (315), a chromatographic field (330), a detector (350), and
a data processor (370). Disclosed features and specifications may be
variously controlled, adapted or otherwise optionally modified to improve
detection of any sub-diffraction-limited scale phenomena. Exemplary
embodiments of the present invention representatively provide for improved
S/N, increased sample throughput, refined spectral resolution and enhanced
detection sensitivity.
Ένα υποδειγματικές σύστημα και μια μέθοδος για τουλάχιστον ένα κατάλοιπο σε ένα δείγμα περιλαμβάνουν μεταξύ άλλων μια πηγή ακτινοβολίας (300), μιας σειράς ανοιγμάτων κοντινός-τομέων (315), ενός χρωματογραφικού τομέα (330), ενός ανιχνευτή (350), και ενός επεξεργαστή στοιχείων (370). Τα αποκαλυπτόμενες χαρακτηριστικά γνωρίσματα και οι προδιαγραφές μπορούν να ελεγχθούν ποικιλοτρόπως, να προσαρμοστούν ή ειδάλλως προαιρετικά να τροποποιηθούν για να βελτιώσουν την ανίχνευση οποιωνδήποτε υπο--διάθλαση-περιορισμένων φαινομένων κλίμακας. Οι υποδειγματικές ενσωματώσεις της παρούσας εφεύρεσης προβλέπουν αντιπροσωπευτικά βελτιωμένο S/N, την αυξανόμενη ρυθμοαπόδοση δειγμάτων, την καθαρισμένη φασματική ανάλυση και την ενισχυμένη ευαισθησία ανίχνευσης.
