Test circuitry and test methods performing supply current measurement is
presented. The test circuitry can be but is not limited to be on-chip. The
supply current, also denoted test current, can be transient. The test
circuitry and methods do not cause additional power supply voltage
degradation. The test circuitry and methods provide detection capabilities
for open defects, causing significant reduction of the transient supply
current.
I metodi dei circuiti della prova e della prova che realizzano la misura corrente del rifornimento è presentato. I circuiti della prova possono essere ma non essere limitati per essere su-circuito integrato. Il rifornimento corrente, corrente anche denotata della prova, può essere transitorio. I circuiti ed i metodi della prova non causano la degradazione supplementare di tensione del gruppo di alimentazione. I circuiti ed i metodi della prova forniscono le possibilità di rilevazione per i difetti aperti, causanti la riduzione significativa della corrente transitoria del rifornimento.
