The invention relates to a method for automatic lamp adjustment in a
microscope without beam homogenizers in the illuminating beam path and a
microscope equipped for the application of the method. According to the
invention, the light power in the illuminating beam path is integrally
measured with a detector behind the pupil plane of the microscope
objective or behind the pupil plane of the illuminating beam path and the
lamp is so adjusted relative to the illuminating beam path that the light
power, which is detected by the detector, is a maximum. In a microscope,
which is suitable for an automated lamp adjustment, for example, after an
exchange of the lamp according to the method of the invention, motorized
drives are provided for adjusting the lamp. These drives are driven
sequentially by an evaluation and control computer until a maximum light
power is detected with a detector.
A invenção relaciona-se a um método para o ajuste automático da lâmpada em um microscópio sem os homogenizers do feixe no trajeto de feixe iluminando e em um microscópio equipado para a aplicação do método. De acordo com a invenção, o poder claro no trajeto de feixe iluminando é medido integralmente com um detetor atrás do plano da pupila do microscópio objetivo ou atrás do plano da pupila do trajeto de feixe iluminando e da lâmpada é assim que ajustado relativo ao trajeto de feixe iluminar que o poder claro, que é detectado pelo detetor, é um máximo. Em um microscópio, que seja apropriado para um ajuste automatizado da lâmpada, para o exemplo, depois que uma troca da lâmpada de acordo com o método da invenção, as movimentações motorized são fornecidas ajustando a lâmpada. Estas movimentações estão dirigidas sequencialmente por um computador da avaliação e de controle até que um poder claro máximo esteja detectado com um detetor.
