A method and apparatus for manipulating the surface of a sample including a
cantilever, a first tip mounted on the cantilever, and a second tip
mounted on the cantilever, the first and the second tip being configured
to combine to form an imaging probe and to separate to form a manipulation
probe. The first and second tips are configured to form a first position
characterized in that the tips combine to form an imaging tip and the
first and the second tip are configured to form a second position
characterized in that the tips separate to manipulate particles on a
surface of a sample. The tips can be configured to form the first position
when a voltage is applied across the tips, and preferable extend
downwardly from the cantilever substantially perpendicular thereto.
Un metodo e un apparecchio per il maneggiamento della superficie di un campione compreso un a mensola, una prima punta montati su una punta a mensola e e seconda hanno montato sull'a mensola, la prima e seconda punta che è configurata per unire per formare una sonda di formazione immagine e per separare per formare una sonda di manipolazione. Le prime e seconde punte sono configurate per formare una prima posizione caratterizzata dal fatto che le punte uniscono per formare una punta di formazione immagine e la prima e seconda punta è configurata per formare una seconda posizione caratterizzata dal fatto che le punte separano per maneggiare le particelle su una superficie di un campione. Le punte possono essere configurate per formare la prima posizione quando una tensione è applicata attraverso le punte e preferibile estendasi in giù sostanzialmente dal perpendicolare a mensola a ciò.
