An apparatus for investigating a sample, the apparatus comprising an
emitter (1) for irradiating the sample (27) with a beam of emitted
electromagnetic radiation; and a detector (49) for detecting the radiation
reflected from the sample, wherein there is an optically non-linear member
(15) which functions as both an active part of the emitter and an active
part of the detector, said emitter and detector using the same part of the
optically non-linear member (15). The electromagnetic radiation is
primarily intended to be in the terahertz (THz) frequency range.
Μια συσκευή για ένα δείγμα, οι συσκευές περιλαμβάνοντας έναν εκπομπό (1) για την ακτινοβόληση του δείγματος (27) με μια ακτίνα της εκπεμπόμενης ηλεκτρομαγνητικής ακτινοβολίας και ένας ανιχνευτής (49) για την ανίχνευση της ακτινοβολίας απεικόνισε από το δείγμα, όπου υπάρχει ένα οπτικά μη γραμμικό μέλος (15) που λειτουργίες και ως ενεργό μέρος του εκπομπού και ένα ενεργό μέρος του ανιχνευτή, του εν λόγω εκπομπού και του ανιχνευτή που χρησιμοποιούν το ίδιο μέρος του οπτικά μη γραμμικού μέλους (15). Η ηλεκτρομαγνητική ακτινοβολία προορίζεται πρώτιστα να είναι στο φάσμα συχνότητας terahertz (THz).
