A sampling apparatus for use in high data rate jitter measurement systems
based on offset sampling uses a trigger circuit, along with a time-based
variable delay, to align a sampling strobe to drive two samplers. An input
data signal is split and fed via separate signal paths into the two
samplers. One of the samplers is delayed in sampling the input signal or
the input is delayed to one of the samplers, such that the two samples of
the input signal are offset in time. The jitter present in the SUT can be
calculated using the two samples. In addition, when using two strobe
circuits, the jitter inherently present in the strobe circuits can be
compensated for by offset sampling a reference clock with each main strobe
to determine the phase and cycle number of the reference clock at each
strobe time.
Een bemonsteringsapparaat voor gebruik in hoge de metingssystemen van het gegevenstarief jitter die op compensatiebemonstering worden gebaseerd gebruikt een trekkerkring, samen met een op tijd-gebaseerde veranderlijke vertraging, om een bemonsteringsstroboscoop te richten om twee monstertrekkers te drijven. Een signaal van inputgegevens is verdeeld en gevoed via afzonderlijke signaalwegen in de twee monstertrekkers. Één van de monstertrekkers wordt vertraagd in het bemonsteren van het inputsignaal of de input wordt vertraagd aan één van de monstertrekkers, dusdanig dat de twee steekproeven van het inputsignaal op tijd worden gecompenseerd. Jitter huidig in SUT kan worden berekend gebruikend de twee steekproeven. Bovendien wanneer het gebruiken van twee stroboscoopkringen, kan jitter inherent huidig in de stroboscoopkringen door compensatie worden gecompenseerd bemonsterend een verwijzingsklok met elke hoofdstroboscoop om het fase en cyclusaantal van de verwijzingsklok in elke stroboscooptijd te bepalen.
