Optical margin testing system for automatic power control loops

   
   

An optical margin testing system is provided for automatic power control loops. An optical circuit includes a laser diode and a monitor diode coupled to the automatic power control loop. A bias generator circuit generates a control signal. The control signal is applied to the automatic power control loop. The control signal enables an operation point of the laser diode to both increase and decrease by a set percentage value for optical margin testing. The bias generator circuit includes a tri-state receiver. An input signal is applied to the tri-state receiver for selecting one of a normal operational mode, an increased set percentage value operational mode, and a decreased set percentage value operational mode. A current mirror is coupled to the tri-state receiver provides the control signal that is applied to the automatic power control loop.

Een optisch marge testend systeem wordt verstrekt voor automatische vermogenssturingslijnen. Een optische kring omvat een laserdiode en een monitordiode die aan de automatische vermogenssturingslijn wordt gekoppeld. Een bias generatorkring produceert een controlesignaal. Het controlesignaal wordt toegepast op de automatische vermogenssturingslijn. Het controlesignaal laat een verrichtingspunt van de laserdiode toe zowel door een vastgestelde percentagewaarde stijgen en verminderen voor het optische marge testen. De bias generatorkring omvat een tri-staatsontvanger. Een inputsignaal wordt toegepast op de tri-staatsontvanger voor het selecteren van één van een normale operationele wijze, een verhoogde vastgestelde operationele wijze van de percentagewaarde, en een verminderde vastgestelde operationele wijze van de percentagewaarde. Een huidige spiegel wordt gekoppeld aan de tri-staatsontvanger verstrekt het controlesignaal dat wordt toegepast op de automatische vermogenssturingslijn.

 
Web www.patentalert.com

< Solid-state laser device

< Methods of controlling a laser in a WDM application

> Laser oscillation apparatus, exposure apparatus, semiconductor device manufacturing method, semiconductor manufacturing factory, and exposure apparatus maintenance method

> Powerpack laser diode assemblies

~ 00169