An apparatus embodying the invention includes a probe head with an
interrogation surface that is intended to be positioned adjacent or pushed
into contact with a target material or tissue. The probe head is
constructed to have a plurality of interrogation devices arranged across
the face of the interrogation surface. The probe head is also constructed
so that the interrogation device can conform to a non-uniform or
non-planar surface of the target tissue. In some embodiments, the
interrogation surface may have a particular shape that conforms to the
shape of a target material. In other embodiments, one or more portions of
the interrogation surface could be movable with respect to the remaining
portions so that the interrogation surface could be movable with respect
to remaining portions so that the interrogation surface can thereby
conform to a non-uniform surface. In still other embodiments, a plurality
of separately moveable interrogation devices can be arranged across the
interrogation surface. During a measurement process, the interrogation
surface would be pressed into contact with the non-uniform surface to
cause individual ones of the interrogation devices to move, thereby
causing the probe head to conform to the non-uniform surface.
Μια συσκευή που ενσωματώνει την εφεύρεση περιλαμβάνει ένα κεφάλι ελέγχων με μια επιφάνεια ερώτησης που προορίζεται να είναι τοποθετημένη παρακείμενη ή ωθημένος στην επαφή με ένα υλικό ή έναν ιστό στόχων. Το κεφάλι ελέγχων κατασκευάζεται για να έχει μια πολλαπλότητα των συσκευών ερώτησης που τακτοποιούνται πέρα από το πρόσωπο της επιφάνειας ερώτησης. Το κεφάλι ελέγχων κατασκευάζεται επίσης έτσι ώστε η συσκευή ερώτησης μπορεί να προσαρμοστεί σε μια ανομοιόμορφη ή non-planar επιφάνεια του ιστού στόχων. Σε μερικές ενσωματώσεις, η επιφάνεια ερώτησης μπορεί να έχει μια ιδιαίτερη μορφή που προσαρμόζεται στη μορφή ενός υλικού στόχων. Σε άλλες ενσωματώσεις, μια ή περισσότερες μερίδες της επιφάνειας ερώτησης θα μπορούσαν να είναι κινητές όσον αφορά τις υπόλοιπες μερίδες έτσι ώστε η επιφάνεια ερώτησης να μπορεί να είναι κινητή όσον αφορά την παραμονή μερίδες έτσι ώστε η επιφάνεια ερώτησης μπορεί με αυτόν τον τρόπο να προσαρμοστεί σε μια ανομοιόμορφη επιφάνεια. Ακόμα σε άλλες ενσωματώσεις, μια πολλαπλότητα των χωριστά κινητών συσκευών ερώτησης μπορεί να τακτοποιηθεί πέρα από την επιφάνεια ερώτησης. Κατά τη διάρκεια μιας διαδικασίας μέτρησης, η επιφάνεια ερώτησης θα πιεζόταν στην επαφή με την ανομοιόμορφη επιφάνεια για να αναγκάσει τη μεμονωμένη αυτό των συσκευών ερώτησης για να κινηθεί, με αυτόν τον τρόπο αναγκάζοντας το κεφάλι ελέγχων για να προσαρμοστεί στην ανομοιόμορφη επιφάνεια.
