Power-on state machine implementation with a counter to control the scan for products with hard-BISR memories

   
   

An apparatus comprising a controller circuit and a BISR assembly circuit. The controller circuit may be configured to present one or more control signals. The control signals may be configured to control one or more built-in self-test (BIST) and built-in self-repair (BISR) modes of operation. The BISR assembly circuit generally comprises one or more memory blocks each comprising a counter configured to generate a clock cycle count value in response to a repair solution during the BIST and BISR operations. The memory blocks may be remapped in response to the count values during one or more of the BISR operations.

Un aparato que abarca a un circuito del regulador y a una asamblea de BISR circula. El circuito del regulador se puede configurar para presentar unas o más señales de control. Las señales de control se pueden configurar para controlar un o más modo de operación de autoprueba (BIST) e incorporado incorporado de la uno mismo-reparacio'n (BISR). El circuito de la asamblea de BISR abarca generalmente unos o más bloques cada uno de la memoria que abarca un contador configurado para generar un valor de cuenta de ciclo de reloj en respuesta a una solución de la reparación durante las operaciones de BIST y de BISR. Los bloques de la memoria se pueden remapped en respuesta a los valores de cuenta durante una o más de las operaciones de BISR.

 
Web www.patentalert.com

< Instruction code conversion apparatus creating an instruction code including a second code converted from a first code

< Sequencer and method of selectively inhibiting clock signals to execute reduced instruction sequences in a re-programmable I/O interface

> Multiple device error management

> Semiconductor integrated circuit having a self-testing function

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