A source synchronous test methodology and apparatus. In one embodiment, an
integrated circuit (IC) configured for source synchronous I/O transactions
may be a device under test (DUT) and may be mounted to a load board for
testing. The load board may be electrically coupled to a test system. The
test system may shift first test data into a first IC on the load board.
The first chip may then transmit the first test data through a source
synchronous line, or a source synchronous link having a plurality of
lines, to a second IC. Second test data produced responsive to the source
synchronous transmission is then shifted from the second IC to the tester.
The second test data is then analyzed. The analysis may comprise comparing
the second data to expected data, and/or may also comprise analyzing the
second data with respect to an eye window.
Uma metodologia e um instrumento synchronous do teste da fonte. Em uma incorporação, um circuito integrado (IC) configurarado para transações synchronous da fonte I/O pode ser um dispositivo sob o teste (DUT) e pode ser montado a uma placa de carga para testar. A placa de carga pode eletricamente ser acoplada a um sistema do teste. O sistema do teste pode deslocar primeiros dados de teste em um primeiro IC na placa de carga. A primeira microplaqueta pode então transmitir os primeiros dados de teste através de uma linha synchronous da fonte, ou uma ligação synchronous da fonte que tem um plurality das linhas, a um segundo IC. Segundo responsivo produzido dos dados de teste à transmissão synchronous da fonte é deslocado então do segundo IC ao verificador. Os segundos dados de teste são analisados então. A análise pode compreender comparar os segundos dados aos dados previstos, e/ou pode também compreender a análise dos segundos dados com respeito a uma janela do olho.
