A method for simultaneously performing bit serial analog to digital
conversion (ADC) for a potentially very large number of signals is
described. The method is ideally suited for performing on chip ADC in area
image sensors. In one embodiment, to achieve N-bit precision, the method
employs a one-bit comparator per channel (or set of multiplexed channels)
and an N-bit DAC. To achieve N bits of precision, 2.sup.N -1 comparisons
are sequentially performed. Each comparison is performed by first setting
the DAC output to the desired value and then simultaneously comparing each
of the pixel values to that value. If a pixel value is greater than the
DAC output value, its comparator outputs a one, otherwise it outputs a
zero. By appropriately choosing the sequence of comparison values, the
pixel values are sequentially generated. In another embodiment, the DAC is
omitted and a continuous ramp signal is generated for comparison with the
analog input.
Eine Methode für gleichzeitig durchführen serienmäßig Spitze analoge die zu digitaler Umwandlung (ADC) für eine möglicherweise sehr große Anzahl von Signalen wird beschrieben. Die Methode wird ideal für das Durchführen an Span ADC in den Bereich Bild-Sensoren entsprochen. In einer Verkörperung N-Spitze Präzision zu erzielen, setzt die Methode einen Einspitze Komparator pro Führung (oder Satz multiplexe Führungen) und eine N-Spitze DAC ein. Um N Spitzen der Präzision zu erzielen, werden Vergleiche 2.sup.N -1 der Reihe nach durchgeführt. Jeder Vergleich wird durch erste Einstellung der DAC Ausgang zum gewünschten Wert und jeden der Pixelwerte mit diesem Wert dann gleichzeitig zu vergleichen durchgeführt. Wenn ein Pixelwert grösser ist, als das DAC Wert ausgab, gibt sein Komparator das aus, andernfalls gibt er null aus. Indem man passend die Reihenfolge der Vergleich Werte wählt, werden die Pixelwerte der Reihe nach erzeugt. In einer anderen Verkörperung wird das DAC ausgelassen und ein ununterbrochenes Rampe Signal wird für Vergleich mit der Analogeingabe erzeugt.
