Field repairable system-on-a-chip (SOC) devices are possible by including
electrically programmable circuits on the device, for example in the
embedded memory of the SOC device. The SOC device may undergo a
conventional repair process prior to packaging the device for field
operation. In addition to the conventional repair process, usage indicator
may be marked prior to packaging. In the field, if the embedded memory of
the SOC device fails to operate correctly, diagnostic programs may be run
to identify the faulty rows and/or columns. Redundant rows and/or columns
may be electrically programmed in the field to repair the SOC device.
Multiple field repairs can be accomplished by using this invention.
Les dispositifs réparables du système-sur-un-morceau de champ (SOC) sont possibles en incluant électriquement les circuits programmables sur le dispositif, par exemple dans la mémoire incluse du dispositif de SOC. Le dispositif de SOC peut subir un processus de réparation conventionnel avant d'empaqueter le dispositif pour le service terrain. En plus du processus de réparation conventionnel, l'indicateur d'utilisation peut être marqué avant d'empaqueter. Dans le domaine, si la mémoire incluse du dispositif de SOC ne fonctionne pas correctement, des programmes de diagnostic peuvent être exécutés pour identifier les rangées et/ou les colonnes défectueuses. Des rangées superflues et/ou les colonnes peuvent être électriquement programmées dans le domaine pour réparer le dispositif de SOC. Des réparations multiples de champ peuvent être accomplies en employant cette invention.
