A voltage sample and hold circuit for use as part of a low leakage charge pump circuit in a phase lock loop (PLL). During an inactive state of the charge pumping function, a MOSFET switch that normally connects the charge pump output to the loop filter preceding the voltage controlled oscillator (VCO) of the PLL is opened, e.g., for open loop modulation of the VCO. Meanwhile, the sample and hold circuit which has sampled the voltage at the input side of the MOSFET switch now maintains that voltage, thereby forcing a zero-voltage difference across the MOSFET switch. This zero-voltage difference virtually eliminates subthreshold leakage current through the MOSFET switch, thereby significantly reducing loss of charge in the loop filter due to such leakage current. This ensures a significantly more constant DC bias at the input to the VCO and, therefore, a more stable output center, or carrier, frequency from the PLL during open loop modulation.

Een van de voltagesteekproef en greep kring voor gebruik als deel van een lage de pompkring van de lekkagelast in een fase sluit lijn (PLL). Tijdens een inactieve staat van de last het pompen functie, wordt een MOSFET schakelaar die normaal de output van de lastenpomp met de lijnfilter verbindt die de voltage gecontroleerde oscillator (VCO) voorafgaat van PLL geopend, b.v., voor open lijnmodulatie van VCO. Ondertussen, de steekproef en greepkring die het voltage aan de inputkant van de MOSFET schakelaar nu heeft bemonsterd handhaaft dat voltage, daardoor dwingend een nul-voltage verschil over de MOSFET schakelaar. Dit elimineert het nul-voltage verschil vrijwel subthreshold lekkagestroom door de MOSFET schakelaar, daardoor beduidend verminderend verlies van last in de lijnfilter toe te schrijven aan dergelijke lekkagestroom. Dit verzekert beduidend constantere bias van DC bij de input aan VCO en, daarom, een stabieler outputcentrum, of drager, frequentie van PLL tijdens open lijnmodulatie.