Patterns for a routable interface of the signal lines of a integrated circuit device include several groups of terminals distributed about the pattern center, each group clustered along a corresponding curvilinear reference segment extending outward from the pattern center to its perimeter. Routability zones are created between each successive pair of groups. For higher terminal density, in at least one of the terminal groups of the pattern, either the offset of the terminals from the reference line segment is not uniform, or the distance of the terminals from the pattern center does not increase uniformly. A portion, preferably at least about 50% of the terminals in a group of the pattern are not collinear with, but offset from, the reference segment. A portion, preferably at least about 90% of the terminals in a given terminal group are each closer to the reference line segment of that terminal group than they are to the reference segment of another terminal group. The patterns of this invention can be employed on IC chips, IC package layers and PCB layers for patterning of terminals, pins, via, pads and another connector devices useful in IC devices.

I modelli per un'interfaccia routable dei segnali di un dispositivo del circuito integrato includono parecchi gruppi dei terminali distribuiti circa il centro del modello, ogni gruppo ragruppato lungo un segmento curvilineo corrispondente di riferimento che si estende esternamente dal centro del modello fino il relativo perimetro. Le zone di Routability sono generate fra ogni accoppiamento successivo dei gruppi. Per più alta densità terminale, almeno in uno dei gruppi terminali del modello, o l'immagine riportata dei terminali dalla linea di riferimento segmento non è uniforme, o la distanza dei terminali dal centro del modello non aumenta uniformemente. Una parte, preferibilmente almeno circa 50% dei terminali in un gruppo del modello non è collinear con, ma ha sfalsato da, il segmento di riferimento. Una parte, preferibilmente almeno circa 90% dei terminali in un dato gruppo terminale è ciascuno più vicino alla linea di riferimento segmento di quel gruppo terminale che sono al segmento di riferimento di un altro gruppo terminale. I modelli di questa invenzione possono essere impiegati sugli strati dei circuiti integrati di IC, del pacchetto di IC e sugli strati del PWB per il modello dei terminali, dei perni, via, dei rilievi e degli altri dispositivi del connettore utili in dispositivi di IC.