A memory address generating apparatus and method of a dynamic memory testing circuit for generating addresses for testing a dynamic memory which uses all the available addresses of the dynamic memory, which does not use the most significant addresses, and which does not use middle addresses among all the available addresses are provided. The address generator can obtain an up-counted address by up counting the addresses used by the dynamic memory. It can obtain a down-counted address by inverting the N-bit up-counted value, or by subtracting the N-bit up-counted value from the maximum address, or by combining the inverted MSB portion of the N-bit up-counted value with the LSB portion of the N-bit up-counted value subtracted from the LSB portion of the maximum address used in the dynamic memory. The down and up counted addresses are used as addresses for selectively testing the dynamic memory according to a selected testing method.

Een geheugenadres apparaten produceren en de methode die van een dynamische geheugen testende kring voor het produceren van adressen voor het testen van een dynamisch geheugen dat alle beschikbare adressen van het dynamische geheugen gebruikt, dat niet de meest significante adressen gebruikt, en wat geen middenadressen onder alle beschikbare adressen gebruikt worden verstrekt. De adresgenerator kan een omhoog-geteld adres verkrijgen door de adressen omhoog te tellen die door het dynamische geheugen worden gebruikt. Het kan een beneden-geteld adres verkrijgen door de n-Beetje omhoog-getelde waarde om te keren, of door de n-Beetje omhoog-getelde waarde van het maximumadres af te trekken, of door het omgekeerde gedeelte MSB van de n-Beetje omhoog-getelde waarde met het gedeelte LSB van de n-Beetje omhoog-getelde waarde te combineren die van het gedeelte LSB van het maximumadres wordt afgetrokken dat in het dynamische geheugen wordt gebruikt. De beneden en omhoog getelde adressen worden gebruikt zoals adressen voor selectief het testen van het dynamische geheugen volgens een geselecteerde testmethode.

 
Web www.patentalert.com

< (none)

< Data generation method and apparatus

> Method and apparatus for energy efficient tacking of resonant devices

> (none)

~ 00024