A method and apparatus for testing semiconductor memory chips, such as
DRAMs, having a plurality of memory cells or bits. Each memory chip has a
unique identifier stored in a database. Tests are performed on the memory
chips and when a memory chip fails a test, the memory chip is placed in a
repair bin and a test identifier is stored in the database in association
with the memory chip identifier. In order to repair the memory chip,
failed tests are read out of the database and such tests are again
performed on the failed memory chip in order to determine which memory
cell in the memory chip is faulty. The failed memory cells are then
repaired.
Um método e um instrumento para microplaquetas de memória testando do semicondutor, tais como dRAMs, tendo um plurality de pilhas ou de bocados de memória. Cada microplaqueta de memória tem um identificador original armazenado em uma base de dados. Os testes são executados nas microplaquetas de memória e quando uma microplaqueta de memória falha um teste, a microplaqueta de memória é colocada em um escaninho do reparo e um identificador do teste é armazenado na base de dados na associação com o identificador da microplaqueta de memória. A fim reparar a microplaqueta de memória, os testes falhados são lidos fora da base de dados e tais testes são executados outra vez na microplaqueta de memória falhada a fim determinar que pilha de memória na microplaqueta de memória é defeituosa. As pilhas de memória falhadas são reparadas então.