This invention is a testing technique for an electronic circuit such as an integrated circuit. The electronic circuit includes a JTAG test access port and at least one testable embedded core circuit having its own JTAG compliant second test access port. A test access port controller and a programmable switch control testing of the electronic circuit. An internal state in the test access port controller controls the switch state of the programmable switch. When an embedded core circuit is connected for test, the test access port controller remains responsive to the first test access port and operates in a set of snoopy states corresponding to the state of the embedded core circuit under test. The test access port controller can regain control of the first test access port when in snoopy states. At least one of the embedded core circuits includes a test access port controller for similar controlled connection to further embedded core circuits. Test of the entire electronic circuit invloves selection via the programmable switch of an embedded core circuit to test. The embedded programmable switch permits selection of one of the further embedded core circuits. This permits an previous integrated circuit design to be made into an embedded core circuit with no change in testability.

Questa invenzione è una tecnica di collaudo per un circuito elettronico quale un circuito integrato. Il circuito elettronico include un orificio di accesso della prova di JTAG ed almeno un circuito incluso saggiabile di nucleo che hanno relativo proprio orificio compliant di accesso della prova di JTAG secondo. Un regolatore dell'orificio di accesso della prova e un interruttore programmabile controllano la prova del circuito elettronico. Un interno dichiara nei comandi che del regolatore dell'orificio di accesso della prova l'interruttore dichiara dell'interruttore programmabile. Quando un circuito incluso di nucleo è collegato per la prova, il regolatore dell'orificio di accesso della prova rimane sensible a reagire al primo orificio di accesso della prova e funziona in un insieme di snoopy dichiara corrispondere al dichiarare del circuito incluso di nucleo sotto la prova. Il regolatore dell'orificio di accesso della prova può riguadagnare il controllo del primo orificio di accesso della prova quando in snoopy dichiara. Almeno uno dei circuiti inclusi di nucleo include un regolatore dell'orificio di accesso della prova per collegamento controllato simile ad ulteriori circuiti inclusi di nucleo. Prova di intera selezione elettronica dei invloves del circuito via l'interruttore programmabile di un circuito incluso di nucleo alla prova. L'interruttore programmabile incluso consente una selezione di uno di ulteriori circuiti inclusi di nucleo. Ciò consente un disegno precedente del circuito integrato di essere trasformata un circuito incluso di nucleo senza cambiamento in testability.