An apparatus and method are provided for picking up an integrated circuit and for facilitating the optical testing thereof. The apparatus comprises a pick-up mechanism that includes a vacuum chamber. The vacuum chamber is defined by an upper portion, an expandable member, and a lower portion. The lower portion defines a suction orifice that is moveable with a movement of the expandable member. An optical pathway is defined by the vacuum chamber, the optical pathway passing through the suction orifice and onto an integrated circuit that is held against the suction orifice via a vacuum pressure applied to the vacuum chamber.

Um instrumento e um método são fornecidos escolhendo acima de um circuito integrado e facilitando testar ótico disso. O instrumento compreende um mecanismo do pick-up que inclua uma câmara do vácuo. A câmara do vácuo é definida por uma parcela superior, por um membro expansível, e por uma parcela mais baixa. A parcela mais baixa define um orifício da sucção que seja móvel com um movimento do membro expansível. Um pathway ótico é definido pela câmara do vácuo, o pathway ótico que passa através do orifício da sucção e em um circuito integrado que seja mantido de encontro ao orifício da sucção através de uma pressão do vácuo aplicada à câmara do vácuo.