A particle size analyzer based on laser diffraction method is formed of an irradiation optical system for irradiating laser beam to particles, a measurement optical system for measuring a space intensity distribution by receiving light diffracted/scattered by the particles of the laser beam from the irradiation optical system, and an operation portion for obtaining a particle size distribution of the particles from the results measured by the measurement optical system. The irradiation optical system has a semiconductor laser in an output beam wavelength of 300 to 500 nm as a light source. Thus, particles having diameters of the order of sub-microns can be measured.

Μια συσκευή ανάλυσης μεγέθους μορίων βασισμένη στη μέθοδο διάθλασης λέιζερ διαμορφώνεται ενός οπτικού συστήματος ακτινοβολίας για την ακτίνα λέιζερ στα μόρια, ενός οπτικού συστήματος μέτρησης για μια διαστημική διανομή έντασης με τη λήψη του φωτός που προξενείται περίθλαση/που διασκορπίζεται από τα μόρια της ακτίνας λέιζερ από το οπτικό σύστημα ακτινοβολίας, και μιας μερίδας λειτουργίας για τη λήψη μιας διανομής μεγέθους μορίων των μορίων από τα αποτελέσματα που μετριούνται από το οπτικό σύστημα μέτρησης. Το οπτικό σύστημα ακτινοβολίας έχει ένα λέιζερ ημιαγωγών σε ένα μήκος κύματος ακτίνων παραγωγής 300 έως 500 NM ως πηγή φωτός. Κατά συνέπεια, τα μόρια που έχουν τις διαμέτρους της τάξης sub-microns μπορούν να μετρηθούν.