A method and apparatus for autofocus on a target layer contained within a microplate well is provided. The instrument is capable of optically sensing a reference point on the underside of a microplate. This reference point is then used to focus light onto a target layer within the microplate well, the target layer having a location that is in defined relation to the reference point. The reference point is either a surface of the bottom of the microplate well or is an optically detectable mark on the underside of the microplate. In an alternate embodiment, a light position sensitive detector is used to enable deterministic autofocus for a plurality of wells on a microplate.

Обеспечены метод и прибор для autofocus на слое цели, котор содержат внутри добро microplate. Аппаратура способна оптически воспринимать контрольную точку на нижней стороне microplate. Эта контрольная точка после этого использована для того чтобы сфокусировать свет на слой цели внутри microplate наилучшим образом, слой цели имея положение которое находится в определенном отношении к контрольной точке. Контрольной точкой будет или поверхность дна добра microplate или будет оптически обнаруженная метка на нижней стороне microplate. В другом воплощении, детектор светлого положения чувствительный использован для того чтобы включить детерминистский autofocus для множественности добр на microplate.