Circuit for detecting error transients in logic circuits due to atomic events or other non-recurring noise sources includes a first circuit coupled to a data line for sensing a first signal on the data line at a first point in time (T1) and a second circuit coupled to the data line for sensing the first signal on the data line at a second point in time (T2) such that a time difference between T1 and T2 is small enough so that the first signal is still present on the data line in the absence of a perturbation event and such that the time difference between T1 and T2 is large enough so that any such perturbation event is resolved. A compare circuit coupled to the first and second circuits compares the sensing of the first signal by the first and second circuits, and generates an error signal in response to a non-compare.

De kring voor het ontdekken van foutentijdelijke werkkrachten in logicakringen toe te schrijven aan atoomgebeurtenissen of andere niet-terugkerende lawaaibronnen omvat een eerste kring die aan een gegevenslijn wordt gekoppeld voor het ontdekken van een eerste signaal op de gegevenslijn op een eerste punt op tijd (T1) en een tweede kring die aan de gegevenslijn wordt gekoppeld voor het ontdekken van het eerste signaal op de gegevenslijn op een tweede punt op tijd (T2) dusdanig dat een tijdverschil tussen T1 en T2 klein is zodat het eerste signaal op de gegevenslijn bij gebrek aan een storingsgebeurtenis nog aanwezig is en dusdanig dat het tijdverschil tussen T1 en T2 genoeg genoeg groot is zodat zulk storingsgebeurtenis wordt opgelost. Vergelijk kring die aan de eerste wordt gekoppeld en de tweede kringen vergelijkt het ontdekken van het eerste signaal door de eerste en tweede kringen, en produceert een foutensignaal in antwoord op niet-vergelijken.

 
Web www.patentalert.com

< (none)

< Treatment of inflammation using a 2F1 polypeptide or an antibody thereto

> System and method for temporally controlling instruction execution

> (none)

~ 00045