The present invention provides a resin-encapsulated semiconductor apparatus comprising a semiconductor device having a ferroelectric film and a surface-protective film, and an encapsulant member comprising a resin; the surface-protective film being formed of a polyimide. The present invention also provides a process for fabricating a resin-encapsulated semiconductor apparatus, comprising the steps of forming a film of a polyimide precursor composition on the surface of a semiconductor device having a ferroelectric film; heat-curing the polyimide precursor composition film to form a surface-protective film formed of a polyimide; and encapsulating, with an encapsulant resin, the semiconductor device on which the surface-protective film has been formed. The polyimide may preferably have a glass transition temperature of from 240.degree. C. to 400.degree. C. and a Young's modulus of from 2,600 MPa to 6 GPa. The curing may preferably be carried out at a temperature of from 230.degree. C. to 300.degree. C.

La présente invention fournit un appareillage résine-encapsulé de semi-conducteur comportant un dispositif de semi-conducteur ayant un film ferroelectric et un film protecteur de surface, et un membre encapsulant comportant une résine ; le film protecteur de surface étant constitué d'un polyimide. La présente invention fournit également un processus pour fabriquer un appareillage résine-encapsulé de semi-conducteur, comportant les étapes de former un film de composition de précurseur de polyimide sur la surface d'un dispositif de semi-conducteur ayant un film ferroelectric ; thermodurcissable le film de composition en précurseur de polyimide pour former un film protecteur de surface a formé d'un polyimide ; et s'encapsulant, avec de la résine encapsulant, le dispositif de semi-conducteur sur lequel le film protecteur de surface a été formé. Le polyimide peut de préférence avoir une température de transition de verre de de 240.degree. C. à 400.degree. C. et un module de Young de de 2.600 MPa à 6 GPa. Traiter peut de préférence être effectué à une température de de 230.degree. C. à 300.degree. C.

 
Web www.patentalert.com

< (none)

< Method and apparatus for improved electrodeless lamp screen

> Embedded LSI having a FeRAM section and a logic circuit section

> (none)

~ 00048