A system and method of optically inspecting a structure on a surface of a
production object which is supported on a moving inspection platform. The
method reliably traces structure edges and stores structure and structure
island characteristics. The system uses a camera and a light or energy
source to sharply delineate the structure edges. A sequence of images of
the object and the structure are captured, and the structure is detected
in each image. The structure is then symbolically decomposed into
primitives, and a histogram is produced for each image identifying the
slope and length of each edge of the structure. The histograms are
compared in each image, and are aligned to eliminate differences due to
wobble of the inspection platform or differences in magnification. A
production structure grammar is then produced from the aligned images. The
production structure grammar is compared to a reference structure grammar
generated from a defect-free object. Differences in the two grammars, if
any, are used to identify missing, misaligned, or misoriented structures
on the production object, and to detect foreign objects and other defects.
Un sistema y un método ópticamente de examinar una estructura en una superficie de un objeto de la producción que se apoya en una plataforma móvil de la inspección. El método remonta confiablemente los bordes de la estructura y almacena características de la estructura y de la isla de la estructura. El sistema utiliza una cámara fotográfica y una luz o una fuente de energía para delinear agudamente los bordes de la estructura. Una secuencia de las imágenes del objeto y la estructura se capturan, y la estructura se detecta en cada imagen. La estructura entonces se descompone simbólicamente en primitivos, y un histograma se produce para cada imagen que identifica la cuesta y la longitud de cada borde de la estructura. Los histogramas se comparan en cada imagen, y se alinean para eliminar las diferencias debido al bamboleo de la plataforma de la inspección o las diferencias en la ampliación. Una gramática de la estructura de la producción entonces se produce de las imágenes alineadas. La gramática de la estructura de la producción se compara a una gramática de la estructura de la referencia generada de un objeto sin defecto. Las diferencias en las dos gramáticas, si las hay, se utilizan para identificar a desaparecidos, mal alineados mal, o misoriented las estructuras en el objeto de la producción, y para detectar objetos extranjeros y otros defectos.