A stereolithographically fabricated marking for a semiconductor device component, such as a packaged or unpackaged semiconductor device or another substrate. When formed on a semiconductor device with a stereolithographicaily formed package structure, the marking may be integral with the package. The marking may be formed as apertures through or recesses in one or more stereolithographically fabricated layers of material, or the marking may include one or more stereolithographically fabricated layers that protrude from a surface of a semiconductor device component. Raised markings may also be formed on the surfaces of packaged or bare semiconductor device components. Alternatively, the marking may be fabricated separately from a semiconductor device component, then secured thereto. Methods for stereolithographically marking semiconductor device components are also disclosed. A machine vision system may be used in such methods so as to recognize the position and orientation of a semiconductor device or other substrate to be stereolithographically marked.

Um marking stereolithographically fabricado para um componente do dispositivo de semicondutor, tal como um dispositivo de semicondutor empacotado ou unpackaged ou uma outra carcaça. Quando dado forma em um dispositivo de semicondutor com uma estrutura stereolithographicaily dada forma do pacote, o marking pode ser integral com o pacote. O marking pode ser dado forma como aberturas através ou rebaixos em um ou mais camada stereolithographically fabricada de material, ou o marking pode incluir um ou mais camada stereolithographically fabricada que se projetam de uma superfície de um componente do dispositivo de semicondutor. Os markings levantados podem também ser dados forma nas superfícies do empacotado ou descobrir componentes do dispositivo de semicondutor. Alternativamente, o marking pode ser fabricado separada de um componente do dispositivo de semicondutor, fixado então a isso. Os métodos para stereolithographically marcar componentes do dispositivo de semicondutor são divulgados também. Um sistema da visão da máquina pode ser usado em tais métodos para reconhecer a posição e a orientação de um dispositivo de semicondutor ou da outra carcaça a ser marcados stereolithographically.