A method of testing an integrated circuit that includes supplying the integrated circuit in static conditions; biasing the p-type body regions with a potential more negative than the negative pole of the supply and the n-type body regions with a potential more positive than the positive pole of the supply; setting a current threshold value; measuring the current absorbed; comparing the current measured with the threshold current; and accepting or rejecting the integrated circuit if the comparison shows that the current measured is less than or is greater than the threshold value, respectively.

Метод испытывать интегрированную цепь вклюает поставлять интегрированную цепь в статические условия; склоняющ зоны тела п-tipa с потенциалом более отрицательным чем отрицательный полюс поставкы и зоны тела н-tipa с потенциалом более положительным чем положительный полюс поставкы; устанавливать в настоящее время порогового значение; измерять течение поглотил; сравнивать течение измерил с течением порога; и признавающ или излучающ интегрированную цепь если сравнение показывает, то что измеренное в настоящее время чем или greater than порогового значение, соответственно.