A method of accessing a semiconductor memory comprising ferroelectric
memory FETs arranged as a matrix to allow write and/or read data to and
from only an intended memory cell without the data in not-intended cells
being destroyed by the application of a disturbing voltage to not-intended
cells, even without providing each cell with a selection element. The
method is characterized in that, when data are written to or read from
memory cells Q1 through Q4 arranged as a matrix comprising ferroelectric
memory FETs each having a ferroelectric layer on the gate side to
constitute a semiconductor memory, a voltage of a direction opposite that
of the voltage for writing or reading the data is applied, followed by the
application of a voltage for writing or reading.
Eine Methode des Zugänglich machens eines Halbleiterspeichers, der die ferroelectric Gedächtnis FETs geordnet werden als Matrix, um zu gewähren enthält, schreiben und/oder gelesene Daten nach und von nur einer beabsichtigten Speicherzelle ohne die Daten in die nicht-beabsichtigten Zellen, die durch die Anwendung einer beunruhigenden Spannung zu nicht-beabsichtigten Zellen zerstört werden, gleichmäßig, ohne jede Zelle mit einem Vorwählerelement zu versehen. Die Methode wird in der, wenn Daten zu geschrieben werden oder von den Speicherzellen Q1 bis Q4 lesen, das als Matrix geordnet wird, die ferroelectric Gedächtnis FETs jeden enthält, der eine ferroelectric Schicht auf der Gatterseite, um einen Halbleiterspeicher festzusetzen hat, eine Spannung einer Richtung gegenüber von der der Spannung für Schreiben gekennzeichnet, oder Messwert die Daten wird angewendet, gefolgt durch die Anwendung einer Spannung für Schreiben oder Messwert.