A method for generating a semiconductor test program is disclosed. The method is practiced by first creating a test plan according to a test key database, then take out the related parameters from the other databases in light of the test item in the test plan and creating a semiconductor test program. The semiconductor test program is attached to the wafer acceptance test (WAT) main program as a sub-program. The method for generating the auto-testing program can promote the efficiency for writing a test program and is easy to expand and maintain according to the progress of semiconductor processes.

Un método para generar un programa de la prueba del semiconductor se divulga. El método es practicado primero creando un plan de prueba según una base de datos de la llave de prueba, después toma hacia fuera los parámetros relacionados de las otras bases de datos en la luz del artículo de la prueba en el plan y crear de prueba un programa de la prueba del semiconductor. El programa de la prueba del semiconductor se une al programa principal de la prueba de aceptación de la oblea (WAT) como subprograma. El método para generar el programa automo'vil-de prueba puede promover la eficacia para escribir un programa de la prueba y es fácil de ampliarse y de mantener según el progreso de los procesos del semiconductor.