An integrated circuit including serial data input and output pins, on-chip functional circuitry and test logic, a test access port controller, and a data adaptor. The test access port controller is connected to effect communication of serial data across tile chip boundary via the input and output pins and is connectable to the test logic to effect communication of serial test data off-chip. The data adaptor is connectable to the input and output pins via the test access port controller. The data adaptor includes an interface for communicating data in the form of serial bits with the test access port controller under control of a first clock signal, and an interface for communicating data in the form of successive sets of parallel data and control signals with the on-chip functional circuitry under control of a second clock signal that is generated independently of the first clock signal. The data adaptor also includes a data store for holding data received in it to take into account differences between the first and second clock signals.

Ένα ολοκληρωμένο κύκλωμα συμπεριλαμβανομένων των τμηματικών καρφιτσών εισαγωγής στοιχείων και παραγωγής, λειτουργικά στοιχεία κυκλώματος-ΤΣΙΠ και λογική δοκιμής, ένας ελεγκτής λιμένων πρόσβασης δοκιμής, και ένας προσαρμοστής στοιχείων. Ο ελεγκτής λιμένων πρόσβασης δοκιμής συνδέεται με την επικοινωνία επίδρασης των τμηματικών στοιχείων πέρα από το όριο τσιπ κεραμιδιών μέσω των καρφιτσών εισαγωγής και παραγωγής και είναι συνδέσιμος στη λογική δοκιμής για να επηρεάσει την επικοινωνία των τμηματικών στοιχείων δοκιμής off-chip. Ο προσαρμοστής στοιχείων είναι συνδέσιμος στις καρφίτσες εισαγωγής και παραγωγής μέσω του ελεγκτή λιμένων πρόσβασης δοκιμής. Ο προσαρμοστής στοιχείων περιλαμβάνει μια διεπαφή για την επικοινωνία των στοιχείων υπό μορφή τμηματικών κομματιών με τον ελεγκτή λιμένων πρόσβασης δοκιμής υπό έλεγχο ενός πρώτου σήματος ρολογιών, και μια διεπαφή για την επικοινωνία των στοιχείων υπό μορφή διαδοχικών συνόλων παράλληλων σημάτων στοιχείων και ελέγχου με τα λειτουργικά στοιχεία κυκλώματος-ΤΣΙΠ υπό έλεγχο ενός δεύτερου σήματος ρολογιών που παράγεται ανεξάρτητα από το πρώτο σήμα ρολογιών. Ο προσαρμοστής στοιχείων περιλαμβάνει επίσης ένα κατάστημα στοιχείων για τα στοιχεία εκμετάλλευσης που παραλαμβάνονται σε τον για να λάβουν υπόψη τις διαφορές μεταξύ των πρώτων και δεύτερων σημάτων ρολογιών.