A system for testing a semiconductor integrated circuit includes a plurality of programmable logic cells (LCL) having storage elements (MC1 through MC4) and each capable of outputting an arbitrary logic output corresponding to an input according to information stored in each storage element are spread over areas other than circuit blocks (CPU, ROM, etc.) on a semiconductor chip without space. Each in-chip circuit block is tested by use of the programmable logic cell.

Um sistema para testar um circuito integrado do semicondutor inclui um plurality das pilhas programáveis da lógica (LCL) que têm os elementos do armazenamento (MC1 com MC4) e cada um capaz de outputting lógica arbitrária corresponder output a uma entrada de acordo com a informação armazenada em cada elemento do armazenamento é espalhado sobre áreas à excepção dos blocos do circuito (processador central, ROM, etc..) em uma microplaqueta do semicondutor sem espaço. Cada bloco do circuito da em-microplaqueta é testado pelo uso da pilha programável da lógica.