A method and apparatus for locating defects in an on-chip memory of an integrated circuit is presented. During a memory test of on-chip memory, a known data value is written to a word in the on-chip memory, and an output data value is read back from the same addressed word in memory. A comparison of the output data value and expected data value is performed within the integrated circuit, producing a comparison result indicating which of the bit cells in the addressed word have failed. The address and comparison result are transferred external to said integrated circuit and correspond to a bitmap entry in a bitmap. The execution of a full memory test results in a complete bitmap indicating all the failed cells of the on-chip memory.

Un metodo e un apparecchio per l'individuazione dei difetti in una memoria del su-circuito integrato di un circuito integrato è presentato. Durante la prova di memoria della memoria del su-circuito integrato, un valore conosciuto di dati è scritto ad una parola nella memoria del su-circuito integrato e un valore di dati dell'uscita è letto indietro dallo stesso parola indirizzata nella memoria. Un confronto dei dati dell'uscita stima e che previsto che valore di dati siano effettuati all'interno del circuito integrato, producendo indicare di risultato di confronto quale delle cellule di punta nella parola indirizzata sono venuto a mancare. L'indirizzo ed il risultato di confronto sono esterno trasferito al circuito integrato detto e corrispondono ad un'entrata a memoria d'immagine in un indirizzamento a bit. L'esecuzione dei risultati della prova completi di memoria in un indirizzamento a bit completo che indica tutte le cellule guastate della memoria del su-circuito integrato.