An automated method for generating input/output (I/O) cells for an integrated circuit chip is provided. The method includes receiving a width parameter (as user requested data) for a desired I/O cell to be used for the integrated circuit chip. The method also includes receiving a tolerance parameter for the desired I/O cell. A cell library is selected to have a plurality of slices to meet the tolerance parameter. Then, the method proceeds to determine a number of the plurality of slices to be used to fit within the width parameter and to satisfy a drive strength parameter. The width parameter is then filled with a first row of the determined number of the plurality of slices. If the first row of slices (in either the N-channel device region or the P-channel device region) does not meet the drive strength parameter, additional rows (e.g., of dynamically adjusted height) can be added to provide an additional amount of transistor width that will meet the drive strength requirement. The generation of the I/O cells also includes the auto generation of P-tap regions, N-tap regions, isolation ring regions, and a receiver pre-driver region. The automated method is preferably provided as an I/O generation software tool to enable circuit designers with the flexibility of quickly generating I/O cells that meet each of their physical layout requirements as well as their performance demands.

Un método automatizado para generar las células de la entrada-salida (I/O) para una viruta de circuito integrado se proporciona. El método incluye la recepción de un parámetro de la anchura (como el usuario solicitó datos) para que una célula deseada de I/O sea utilizada para la viruta de circuito integrado. El método también incluye la recepción de un parámetro de la tolerancia para la célula deseada de I/O. Una biblioteca de célula se selecciona para tener una pluralidad de rebanadas para resolver el parámetro de la tolerancia. Entonces, el método procede a determinar un número de la pluralidad de rebanadas que se utilizarán caber dentro del parámetro de la anchura y satisfacer un parámetro de la fuerza de la impulsión. El parámetro de la anchura entonces se llena de una primera fila del número resuelto de la pluralidad de rebanadas. Si la primera fila de rebanadas (en la región del dispositivo del N-canal o la región del dispositivo del P-canal) no resuelve el parámetro de la fuerza de la impulsión, las filas adicionales (e.g., de la altura dinámicamente ajustada) se pueden agregar para proporcionar una cantidad adicional de anchura del transistor que resuelva el requisito de la fuerza de la impulsión. La generación de las células de I/O también incluye la generación auto de P-golpea ligeramente regiones, N-golpea ligeramente regiones, regiones del anillo del aislamiento, y una región del pre-conductor del receptor. El método automatizado se proporciona preferiblemente como herramienta del software de la generación de I/O para permitir a diseñadores del circuito con la flexibilidad rápidamente de generar las células de I/O que resuelven cada uno de sus requisitos físicos de la disposición tan bien como sus demandas del funcionamiento.