A computer system automatically determines and displays the physical location of a failed memory cell of an array of memory cells on magnified images of a memory IC (integrated circuit) die from label information of the failed memory cell generated by a test station. The label information includes any combination of a sector label, an I/O label, a column label, and a row label. The memory IC die is comprised of a plurality of sectors, and the sector label corresponds to the sector having the failed memory cell located therein. A sector is comprised of a plurality of I/O regions, and the I/O label specifies the I/O region having the failed memory cell located therein, within the sector having the sector label. An I/O region is comprised of a plurality of horizontal conductive structures and vertical conductive structures. The column label indicates the vertical conductive structure coupled to the failed memory cell, and the row label indicates the horizontal conductive structure coupled to the failed memory cell, within the I/O region having the I/O label. The computer system accepts the label information and automatically determines and displays any combination of a first magnified image of the memory IC die with the sector corresponding to the sector label highlighted and/or a second magnified image of the sector corresponding to the sector label with the I/O region corresponding to the I/O label highlighted and/or a third magnified image of the I/O region corresponding to the I/O label with the vertical conductive structure corresponding to the column label and/or the horizontal conductive structure corresponding to the row label highlighted, on a GUI (graphical user interface) of the computer system.

Um sistema computatorizado automaticamente determina e indica a posição física de uma pilha de memória falhada de uma disposição de pilhas de memória em imagens ampliadas de um dado do IC da memória (circuito integrado) da informação da etiqueta da pilha de memória falhada gerada por uma estação do teste. A informação da etiqueta inclui toda a combinação de uma etiqueta do setor, de uma etiqueta de I/O, de uma etiqueta da coluna, e de uma etiqueta da fileira. O dado do IC da memória é compreendido de um plurality dos setores, e a etiqueta do setor corresponde ao setor que tem a pilha de memória falhada encontrada nisso. Um setor é compreendido de um plurality de regiões de I/O, e a etiqueta de I/O especifica a região de I/O que tem a pilha de memória falhada situada nisso, dentro do setor que tem a etiqueta do setor. Uma região de I/O é compreendida de um plurality de estruturas condutoras horizontais e de estruturas condutoras verticais. A etiqueta da coluna indica a estrutura condutora vertical acoplada à pilha de memória falhada, e a etiqueta da fileira indica a estrutura condutora horizontal acoplada à pilha de memória falhada, dentro da região de I/O que tem a etiqueta de I/O. O sistema computatorizado aceita a informação da etiqueta e automaticamente determina e indica toda a combinação de uma primeira imagem ampliada do dado do IC da memória com o setor que corresponde à etiqueta do setor destacada e/ou de uma segunda imagem ampliada do setor que corresponde à etiqueta do setor com a região de I/O que corresponde à etiqueta de I/O destacada e/ou de uma terceira imagem ampliada da região de I/O que corresponde à etiqueta de I/O com a estrutura condutora vertical que correspondem à etiqueta da coluna e/ou a estrutura condutora horizontal que corresponde à etiqueta da fileira destacada, em um GUI (relação de usuário gráfica) do sistema computatorizado.