One embodiment of the invention provides a system that analyzes a layout related to a circuit on a semiconductor chip using an instance-based representation of a set of geometrical features that comprise the layout. The system operates by receiving a representation of the layout, wherein the representation defines a plurality of nodes that include one or more geometrical features. Next, the system converts the representation into an instance-based representation by identifying multiple occurrences of identical node instances in the layout, wherein each node instance can be further processed without having to consider effects of external factors on the node instance. The system then performs an further processing on the instance-based representation by processing each node instance only once, whereby the processing does not have to be repeated on multiple occurrences of the node instance in the layout.

Μια ενσωμάτωση της εφεύρεσης παρέχει ένα σύστημα που αναλύει ένα σχεδιάγραμμα σχετικό με ένα κύκλωμα σε ένα τσιπ ημιαγωγών χρησιμοποιώντας μια περίπτωση-βασισμένη αντιπροσώπευση ενός συνόλου γεωμετρικών χαρακτηριστικών γνωρισμάτων που περιλαμβάνουν το σχεδιάγραμμα. Το σύστημα λειτουργεί με τη λήψη μιας αντιπροσώπευσης του σχεδιαγράμματος, όπου η αντιπροσώπευση καθορίζει μια πολλαπλότητα των κόμβων που περιλαμβάνουν ένα ή περισσότερα γεωμετρικά χαρακτηριστικά γνωρίσματα. Έπειτα, το σύστημα μετατρέπει την αντιπροσώπευση σε μια περίπτωση-βασισμένη αντιπροσώπευση με τον προσδιορισμό των πολλαπλάσιων περιστατικών των ίδιων περιπτώσεων κόμβων στο σχεδιάγραμμα, όπου κάθε περίπτωση κόμβων μπορεί να υποβληθεί σε επεξεργασία περαιτέρω χωρίς να πρέπει να εξεταστούν τα αποτελέσματα των εξωτερικών παραγόντων στην περίπτωση κόμβων. Το σύστημα εκτελεί έπειτα μια περαιτέρω επεξεργασία στην περίπτωση-βασισμένη αντιπροσώπευση με να επεξεργαστεί κάθε περίπτωση κόμβων μόνο μιά φορά, με το οποίο η επεξεργασία δεν ειναι απαραίτητο να επαναληφθεί στα πολλαπλάσια περιστατικά της περίπτωσης κόμβων στο σχεδιάγραμμα.