A technique for verifying on-chip decoupling capacitance using transistor and capacitor surface area information is provided. The technique broadly includes determining a surface area of a transistor, determining a surface area of a decoupling capacitor, comparing the surface area of the transistor to the surface area of the decoupling capacitor to obtain a surface area ratio, and verifying whether there is enough decoupling capacitance based on the surface area ratio. Further, the present invention also provides a technique for determining when and how to redesign a microprocessor in order to have sufficient decoupling capacitance.

Обеспечен метод для проверки емкости на-oblomoka decoupling использующ данные по поверхностной зоны транзистора и конденсатора. Метод обширно вклюает обусловливать поверхностную зону транзистора, обусловливать поверхностную зону decoupling конденсатора, сравнивать поверхностную зону транзистора к поверхностной зоне decoupling конденсатора для того чтобы получить коэффициент поверхностной области, и проверку будет ли достаточная decoupling емкость основанная на коэффициенте поверхностной области. Более потом, присытствыющий вымысел также обеспечивает метод для обусловливать когда и как переконструировать микропроцессор для того чтобы иметь достаточно decoupling емкость.