A method and system for creating a worst case scenario model for a given integrated circuit. The method comprises the steps of sorting skew parameters of each device into groups; and assigning a positive or negative value for each one of the groups to represent the effect of the corresponding skew parameters on the functionality of the integrated circuit. The preferred embodiment of the invention provides some of the benefits of both conventional corner simulation and Monte Carlo simulation. This approach can be implemented with only a few additional simulation iterations, which mitigates the disadvantage of Monte Carlo simulations requiring many simulation iterations. Also, this approach allows a greater degree of flexibility with respect to determining a specific corner file definition, allowing the designer to explore a greater area of model parameter space to insure that the circuit will meet performance requirements over extremes of process technology variation.

Un método y un sistema para crear un panorama peor del caso modelan para un circuito integrado dado. El método abarca los pasos de clasificar parámetros oblicuos de cada dispositivo en grupos; y asignando un valor positivo o negativo para cada de los grupos para representar el efecto de los parámetros oblicuos correspondientes en la funcionalidad del circuito integrado. La encarnación preferida de la invención proporciona algunas de las ventajas de la simulación de la esquina convencional y de la simulación de Monte Carlo. Este acercamiento se puede poner en ejecucio'n con solamente algunas iteraciones adicionales de la simulación, que atenúa la desventaja de las simulaciones de Monte Carlo que requieren muchas iteraciones de la simulación. También, este acercamiento permite un mayor grado de flexibilidad con respecto a determinar una definición de archivo de la esquina específica, permitiendo que el diseñador explore una mayor área del espacio modelo del parámetro para asegurar que el circuito resolverá requisitos de funcionamiento sobre extremos de la variación de la tecnología de proceso.