A probe whose characteristic impedance can be accurately adjusted to a desired value with the production of a small number of prototypes. The probe includes a first line with a signal terminal to be connected to a signal electrode of a circuit to be measured and at least one first region connected to the signal terminal and to which one end of a chip capacitor is connected, a second line connected to a terminal of the first line and a junction to be connected to a measuring instrument at the remaining terminal, and an impedance matched to a characteristic impedance of the measuring instrument, a ground connector with a ground terminal to be connected to the ground electrode of the circuit to be measured, and at least one second region connected to the ground terminal and on which the remaining terminal of the chip capacitor is mounted in one-to-one correspondence with the first region. The impedance of the probe viewed from the circuit to be measured is provided by the chip capacitor mounted at specified positions within the first region and the second region.

Een sonde de waarvan kenmerkende impedantie nauwkeurig aan een gewenste waarde met de productie van een klein aantal prototypen kan worden aangepast. De sonde omvat een eerste lijn met een signaalterminal die aan een signaalelektrode van een te meten kring en minstens één eerste gebied moet worden aangesloten dat met de signaalterminal wordt verbonden en waaraan één eind van een spaandercondensator wordt verbonden, een tweede lijn met een terminal van de eerste lijn en een verbinding dat met een meetinstrument bij eind blijven moet worden verbonden verbonden, en een impedantie die aan een kenmerkende impedantie van het meetinstrument, een grondschakelaar met een grondterminal die aan de grondelektrode van de te meten kring moet worden aangesloten, en minstens één tweede gebied wordt aangepast dat met de grondterminal wordt verbonden en waarop de spaandercondensator wordt opgezet in afzonderlijke correspondentie met het eerste gebied. De impedantie van de sonde die van de te meten kring wordt bekeken wordt verstrekt door de spaandercondensator opgezet bij gespecificeerde posities binnen het eerste gebied en het tweede gebied.